Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope
Title in Dutch as published on TED.
Contract award notice published on TED on 29 May 2026 by Technische Universiteit Delft (Netherlands), CPV 38511000 Electron microscopes. Awarded to Carl Zeiss B.V. for EUR 610,000.
| Notice | 367646-2026 (can-standard) |
|---|---|
| Status | Contract award |
| Published | 29 May 2026 |
| Buyer | Technische Universiteit Delft, Delft |
| Country | Netherlands |
| Main CPV | 38511000-0 Electron microscopes |
| Contract type | supplies |
| Procedure | neg wo call |
| Estimated value | EUR 610,000 excl. VAT |
| Awarded value | EUR 610,000 |
| Tenders received | 1 |
| Award decision | 10 Mar 2026 |
Join the Pro waitlist
Pro adds monitoring, alerts and bulk exports across Initask sites. Leave your email and we will write when it opens.
Description
Voor deze onderzoeksdoelen is gedetailleerde analyse van microstructuren en interfaces essentieel. Een FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope) is noodzakelijk om: • 3D-reconstructies van elektrodematerialen te maken en porositeit en degradatiemechanismen te analyseren. • Lokale karakterisering van interfaces, zoals de Solid Electrolyte Interphase, uit te voeren, wat cruciaal is voor levensduur en veiligheid. • Structurele veranderingen tijdens batterijcycli te onderzoeken, ter ondersteuning van de ontwikkeling van nieuwe batterijchemieën. • Monsters met hoge precisie voor te bereiden voor Transmission Electron Microscopy (TEM) en operando studies. 1
Lots (1)
| Lot | Title | Estimated value | Deadline |
|---|---|---|---|
| LOT-0000 | Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope |
Winners
- Carl Zeiss B.V. Breda, Netherlands, size: sme
More Electron microscopes in Netherlands
Get new electron microscopes tenders by email
A free weekly digest of new competition notices for this CPV code and country, straight from TED.
Set up a free alert